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上海儀電物理光學(xué)儀電物光SGW? X-4B 顯微熔點(diǎn)儀

測(cè)定物質(zhì)的熔點(diǎn)

測(cè)定物質(zhì)的熔點(diǎn)。主要用于藥物、化工、紡織、燃料、香料等晶體有機(jī)化合物之測(cè)定。儀器采用顯微鏡觀察方法,既可用毛細(xì)管法測(cè)定,又可用載玻片-蓋玻片法(熱臺(tái)法)測(cè)定。
SGW® X-4A、SGW® X-4B帶有防風(fēng)罩,減少了環(huán)境對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響。
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毛細(xì)管:90mm適用于WRS系列儀器、120mm適用于WRR系列儀器。
標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì):奈、乙二酸、蒽醌等。
載玻片/蓋波片:適用儀器WRX-2S、SGW® X-4系列
代辦服務(wù):提供儀器校驗(yàn)、3Q認(rèn)證。

測(cè)定物質(zhì)的熔點(diǎn)

儀器型號(hào) GW? X-4B
測(cè)量范圍 室溫~320 ℃
測(cè)量方法 目視
測(cè)量模式 毛細(xì)管法、熱臺(tái)法
最小示值 ?0.1℃
重復(fù)性 ≤200℃±1℃,>200±2℃
觀察方式 雙目體視顯微鏡
放大鏡倍數(shù) 40×-100×變倍
電源 220V±22V,50Hz±1Hz
儀器尺寸 269×160×435mm
儀器凈重 4kg